Fabricante de equipos para medidas del espesor y constantes ópticas en películas / láminas delgadas.

Los sistemas de medida en películas o capas delgadas MProbe, pueden medir prácticamente cualquier película translúcida delgada con espesor desde 1 nm hasta 1 mm.   Se puede medir de forma rápida y fiablemente el espesor y las constantes ópticas en la mayoría de las películas translúcidas o ligeramente absorbentes como: óxidos, nitruros, fotosensibles, polímeros, semiconductores (AlGaAs, InGaAs, CdTe, CIGS), revestimientos duros (SiC, DLC), revestimientos de polímeros (Parileno, poliamidas), pequeñas películas metálicas y muchos más.

Rango espesores: 1 nm-1 mm. Rango longitudes de onda: 200 nm- 5000 nm.

– Medidas y análisis en tiempo real: Multi-capa, delgada, gruesa, no uniformes, etc… – Flexible: De banco o in-situ, conforme R&D. Fácil integración en un sistema usando TCP o interface Modbus. – Medidas: Espesor y constantes ópticas (índice de refracción y coeficiente de absorción). – Amigable y potente: Medidas y análisis con un solo clic. Potentes herramientas: Sensibilidad y simulación, corrección de fondo y escala, unión de capas y materiales, proceso de producción por lotes.

Precisión: 0,01 nm ó 0,01%. Sensibilidad: 0,2% ó 1 nm. Estabilidad: 0,02 nm ó 0,03%. Tamaño estándar del haz 3 mm, hasta 3 um. Tamaño de la muestra desde 1 mm.

Los sistemas estándar para reflectancia y/o transmitancia espectroscópica son:

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Modelo Rango longitud de onda Espectrómetro/ Detector/ Fuente de luz Rango espesor
VIS 400-1100 nm F4/ Si 3600pixels/ Halógeno Tungsteno 15 nm-20um(opción hasta 50 um)
UVVisSR 200-1100 nm F4/ Si CCD 3600 pixels/ Halóneno Deuterio&TungstenoOdissi By6ueg Mujer Sandalias Zapatos Mam'zelle Camel lJFTuKc31 3 nm- 20 um(opción hasta 50 um)
HRViS 700-1000 nm F4 Alta resolución/ Si 3600 pixels/ Halógeno Tungsteno 1 um-400 um
NIR 900-1700 nm F2 Espectrómetro transmisión TVG/ 512 InGaAs/ Halógeno Tungsteno 100 nm-200 um
VISNIR
400- 1700 nm F4 Si CCD 3600 pixels (canal Vis); F2 Espectrómetro Transmisión TVG/ 512 InGaAs PDA(NIR canal)/ Halógeno Tungsteno 15 nm-200 um
UVVISNIR 200- 1700 nm F4 Si CCD 3600 pixels (canal Vis); F2 Espectrómetro Transmisión TVG/ 512 InGaAs PDA(NIR canal)/ Halógeno Deuterio&Tungsteno 3 nm-200 um
NIRSCANMujer Negro Cazadora MoteroPiel Petites Bombes Para Sintética De Pvsa3811 Les Estilo xrBdCoe 900-5000 nm Espectrómetros scanning/ InGaAs/ Detector MCT(tescaneo<60sg) TH-SiN 100 nm-800 um
XT 1590-1650 nm F2 Espectrómetro transmisión TVG/              512 InGaAs/ Halógeno Tungsteno. 10 um-1 mm

Ventajas de la reflectancia espectróscopica: – Mayor precisión en la medida de espesores (con la excepción de películas muy delgadas). – Medida de espesor en películas > 10um. Sistema Mprobe hasta 50 um. – Mayor velocidad en las medidas, < 1ms. – Medida de la aspereza de la superficie.    Ventajas de la elipsometría espectroscópica: – Medida de películas muy delgadas < 5 nm. – Determinación de los valores n y k mediante una inversión directa de la medidas efectuadas.

Puedes ver esta presentación para conocer mejor los equipos para medidas de espesor y constantes ópticas en películas delgadas. 

MProbe system configurations differs in wavelength and thickness range, accessories and sensitivity. Below are links to some of the latest brochures :

MProbe 20 system lineup – includes all standard configuration

MProbe 20 NIR/NIRHR):: measurement of high haze coating, coating on rough surfaces and thick films

MProbe 40( MSP) updatedCordones Coñac primer Plano peralston Con España De Hombre Zapatos VestirCognac Tienda Peralston Online Distribuidor D2EHYeWI9 – all standard MSP configurations (small spot)

MProbe20 Vis : updated our most affordable system – popular in many R&D and OEM applications

MProbe VisLX: MProbeVis configuration for inline application (fast measurement and LAN interface)

MProbe20 UVVisSR : very thin films measurement/ellipsometer replacement best seller

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MProbe UVVisNIR-MSP: our R&D best seller

MProbe 20 VisHR :thick films(polymer web, polyuritane,thick coating) in R&D and industrial applications

MProbe 20 VisHC: Measurement on curved surfaces and large parts

Automated, computer controlled mapping is a great way to test uniformity of coating after deposition or polishing. Mapping accessory

We will be happy to recommend you a suitable system(or custom configure new system) based on you application requirements